無錫益陽半導体有限公司が提供する中国パレットギャップ検出機で、パレットギャップ検出に使用されている。この機械はパレット間のギャップを自動的に検出することができる
Brewster 555は2 D+3 D測定能力を有する先進的なIC外観検出機であり、各種IC製品（例えばBGA、QFP、QFN）に適している
Brewster 333は高性能な半自動IC外観検出機で、先進的な2 Dと3 D測定機能を搭載している。
VA−3200ウェハイメージング検出システムは、ウェハ表面の欠陥を識別するための従来のIQC手動視覚検出に代わる効率的で正確なツールである。
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